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光纤单位 E32系列

出格适合在狭小空间中利用或用于检测细小物体。

  • 特色
  • 品种

规范装配

罗纹型

E32系列 特色 2

•规范的罗纹外形。在支架上开孔,利用螺母装配。 
•直角型的电缆可沿壁面接线,是以具有不易钩挂的长处。

E32系列 特色 3

圆柱型

E32系列 特色 4

•可拔出狭小的空间内停止装配。(利用紧固螺丝装配) 
•φ1×10mm 的超小型传感头,极为节流空间。

E32系列 特色 5

节流空间

扁平型

E32系列 特色 7

•薄型,可以或许装配到狭小的空间。 
•间接装配,不须要公用装配支架。

套管型(在物体四周检测)

E32系列 特色 8

•可在阔别装配地位处停止检测,是以,即便是较小物体,也可以或许接近停止不变检测。

E32系列 特色 9

•可自在转变套管外形。

光束强化

小光点反射(检测细小物体)

E32系列 特色 12

•光点小,合用于细小物体的检测。 
请按照检测物体的巨细和设置间隔,挑选最好传感器。 
(参见—肯定型号时的参考信息—) 
•另外,另有可按照工件巨细,只对拔出量和间隔做出调剂,便可以或许变动光点直径,不需改换光纤的光点可变型的透镜单位。

请参见上面的拔出量-核心间隔-光点直径曲线。

E32系列 特色 14

*拔出量: 约1.3 to 5.8 mm

大功率(远间隔装配/耐尘)

E32系列 特色 15

•不装透镜最大检测间隔;20 m (E32-T17L) 
可用于大型物体 
•有些电源不会等闲遭到尘埃及脏污等的影响。 
•有的产物仅装配透镜,便可轻松完成长间隔化。

窄视线(跨空隙检测)

E32系列 特色 16

•因为光束细,因周边物体反射而产生的反应输入不会形成误举措。

E32系列 特色 17

无背景检测

E32系列 特色 18

•不检测背景(位于必然间隔之外的物体),只不变检测在检测规模内的物体。 
其特色是不易遭到检测物体材质及色彩的影响。

E32系列 特色 19

通明物体检测

回归反射型

E32系列 特色 21

•回归反射型最合用于检测通明物体。 
光束两次经由过程物体,是以遮光量大于对射型。

E32系列 特色 22

•对通明薄膜停止不变超卓的检测。(E32-C31 2M+E39-F3R) 
经由过程怪异的滤波器滤除不须要的光,可大幅进步遮光量,不变检测胶片。

E32系列 特色 23

限制反射型(玻璃检测用)

E32系列 特色 24

•因为是投光轴和受光轴按不异倾斜角度停止穿插的限制反射的光学系,是以,会接管处于检测规模的玻璃的正反射,停止不变检测。

E32系列 特色 25

耐情况

耐化学品/耐油

E32系列 特色 27

•接纳耐各类化学品的氟树脂。

氟树脂耐化学品数据(参考)

E32系列 特色 28

注;成果能够会因浓度而异。

耐曲折/耐断线

E32系列 特色 30

•反复曲折100万次也不会折断。

E32系列 特色 31

•特色是,接纳多条自力的细导线,是以曲折性强,在可动部位利用不会折断。

E32系列 特色 32

•备有只要通入光缆,便可避免钩挂及打击引发断线的不锈钢螺线管。

耐热

E32系列 特色 34

•品种丰硕,可应答100°~350℃的规模。 
请按照耐热温度停止挑选。

公用法式

地区光束(地区检测)

E32系列 特色 36

•经由过程地位误差的掉落检测、蛇形检测和不受孔德影响对物体停止检测时,利用地区光束最适合。

•数字值绝对遮光间隔为直线输入,是以也最合用于蛇形检测。

E32系列 特色 37

液位检测

E32系列 特色 38

•液体程度检测分为管装配型和接液型2种。

管装配型 
检测通明管中的液面。 
将扎带装配到管子上后食用。

E32系列 特色 39

接液型 
接液后,检测液面。 因为笼盖有氟树脂,是以,耐化学品机能优良。

E32系列 特色 40

耐真空

E32系列 特色 41

•可在10-5 Pa的高真空情况中利用。 
•备有耐热温度120°C型和200°C型。

E32系列 特色 42

FPD/半导体/太阳能电池行业

限制反射型

E32系列 特色 43

•玻璃基板校准

检测间隔精度;0.2mm以下 
间隔产生变更,检测地位也不会转变。 
特色是抗倾斜性强。

E32系列 特色 45

•玻璃基板映照

在难以检测的R面也可不变检测。

E32系列 特色 47

•经由过程湿法工艺检测玻璃的有没有

无需打仗,玻璃即便有曲折也可停止不变检测。 
接纳球状头,可完成不受液体影响的不变检测。

E32系列 特色 49

对射型

E32系列 特色 50

•晶片映照

E32系列 特色 52

易于设置在机械臂上的薄型外形。 
光轴调剂简略(机械轴与光轴的误差仅为±0.1° Typ) 
狭小的晶片之间也可精确检测晶片。